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1.扫描电镜能谱仪(SEM-EDS)测试

扫描电子显微镜主要用于对材料形貌/尺寸进行观察并分析,对带有镀层的材料膜层分析、对材料微区进行EDS元素分析等,同时在对材料进行失效分析时进行元素测定、金相分析等。

品牌:日本JEOL/美国EDAX

型号:JSM-7610F

仪器参数:1、热场发射扫描电子显微镜分辨率≤1.0nm,放大倍数25-100万倍;2、能谱探测器晶体有效监测面积30mm23EDS:能量分辨率(Mn-Ka)优于129eV(STD)4EBSD:可抽式背散射电子探测器;5、高分辨红外CCD6、大样品室:可进行直径最大为150mm样品的观察;7、最佳光阑角控制透镜。

                                                

 

2.原子力显微镜(AFM)测试

原子力显微镜主要用于进行材料表面形貌成像、样品厚度、表面粗糙度、纹理质量的测定等。

品牌:德国BRUKER

型号:MULTIMODE8.0

仪器参数:1、分辨率:0.1nm2、样品台移动范围2mm×2mm,样品直径可达15mm,厚度可达6mm3、系统噪声水平≤0.3Å4OMV-UNIV光学辅助系统分辨率1.6μm450倍放大。       

                                                

 

3.四探针测试仪

       数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。

品牌:苏州同创电子有限公司

型号:SZT-2A

仪器参数:

1)测试范围

电阻率10-4105Ω.cm

方块电阻:10-4~105Ω.cm

电阻:10-4105Ω;

2)可测半导体材料尺寸

直径:5mm-130mm

长度:≤400mm

如使用手持探针,尺寸范围可以延伸

3)恒流源:

电流输出:直流电流0~100mA连续可调。

量程:10100μA110100mA

误差:±0.5%

                                                                                                        

 

4.金相显微镜

正置金相显微镜可用于鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构和表面状况,还可以广泛地应用于观察不透明的物质和透明的物质。

品牌:Phenix/凤凰

型号:XZJ-2030B

仪器参数:

1)放大倍数50X-1600X

2CCD成像系统

3)微动精度:0.002mm

                                                                                                        

 

5.万能试验机

万能试验机是用来完成试样的拉伸、压缩、弯曲、剪切等多种力学性能试验,适用于塑料薄膜、复合膜、软质包装材料、胶粘剂、胶粘带、不干胶、橡胶、纸张等产品的拉伸、剥离撕裂等性能测试。

品牌:济南东特仪器设备有限公司

型号:WDS-5KN

仪器参数:(1)额定负荷值5000N;(2)试验力:最小分辨力0.01N;(3)试验速度范围:1-500mm/min,无级调速;(4)位移测量精度:分辨率为0.01mm;(5)变形准确度:优于±1%

                                                                                                                                                                                     

               

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